R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于高端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可支持 4 個信號源，可以精準(zhǔn)地測量高達(dá) 110 GHz 的信號。

需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進(jìn)行要求極高的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)

品的頻率范圍可擴(kuò)展至 500 GHz。
 

主要特點(diǎn)

• 帶 4 個內(nèi)部信號源，頻率高達(dá) 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

• 具有 4 個相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達(dá) 67 GHz）

• 中頻帶寬可高達(dá) 30 MHz，可以實(shí)現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能
• 可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進(jìn)行相位和群延時測量

• 可以對放大器和混頻器進(jìn)行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量

• 實(shí)現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法

• 實(shí)現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò)測量

• 2個內(nèi)部脈沖發(fā)生器

• 通過 R&S^®ZVAX24，實(shí)現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器

• 嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)阻抗匹配

• 支持真差分測量，可以表現(xiàn)出平衡設(shè)備的非線性效應(yīng)

• 多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal

頻率可高達(dá) 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

 線性和非線性放大器和混頻器測量

• 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測量
• 對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進(jìn)行測量
• 對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進(jìn)行測量
• 對放大器進(jìn)行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進(jìn)行測量

 脈沖測量
• 頻帶寬高達(dá) 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對工作頻率高達(dá) 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測量（詳細(xì)內(nèi)

  容請參見“應(yīng)用”和“選件”）
• 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進(jìn)行分辨率高達(dá) 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量
• 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量

 工作頻率高達(dá) 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備
• 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義

 校準(zhǔn)
• 多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 
• 方便、快捷的矢量混頻器校準(zhǔn)功能和帶有“未知通路”校準(zhǔn) UOSM的“適配器去除功能”

一、優(yōu)化的測試和配置時間，提高了測試速度

大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍，使測量快并精確

R&S^®ZVA 的測量速度的將高達(dá) 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測量時間，從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。 在CW 模式下，每個測試點(diǎn)的測量時間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個測試點(diǎn)不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S^®ZVA 上 100 多個獨(dú)立信道和配置的跡線，可以在短時間內(nèi)完成復(fù)雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設(shè)置。


寬動態(tài)范圍

只需要很少的校準(zhǔn)工作量和校準(zhǔn)時間—R&S^®ZV-Z5x 自動校準(zhǔn)單元

• 采用自動校準(zhǔn)單元，將校準(zhǔn)時間降低至更小

• 自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無需配置

• 工作溫度范圍極寬，預(yù)熱時間幾乎為零

手動校準(zhǔn)

• 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持多種校準(zhǔn)技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線端頭可能需要校準(zhǔn)。 選擇可以支持適用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)技術(shù)。

• 系統(tǒng)設(shè)計(jì)有結(jié)構(gòu)清晰的對話框，顯示所有的校準(zhǔn)步驟，確保校準(zhǔn)工作正確無誤。

• 校準(zhǔn)期間，錯誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準(zhǔn)步驟，即，無需從頭開始徹底的重新校準(zhǔn)。

• 對于多端口重新校準(zhǔn)，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個故障電纜）之后，僅需重新校準(zhǔn)相應(yīng)的通路。

• 避免重新校準(zhǔn)：對于后續(xù)測量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準(zhǔn)結(jié)果。

并行測量-測量速度比原來快四倍

R&S^®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計(jì)，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機(jī)使用。 因此，可以對測試端口進(jìn)行分組。 在各個測試端口組上進(jìn)行的測量任務(wù)可以彼此實(shí)現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當(dāng)于測量一個設(shè)備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍。

并行測量-儀器各種設(shè)置之間的快速切換

在同時分析多個DUT時，你再也無需從硬盤逐個載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用，設(shè)置將始終保存于RAM中，其中包括計(jì)算獲得的數(shù)據(jù)，例如通過插值獲得的校準(zhǔn)值。 因此，各種設(shè)置之間的切換幾乎不會產(chǎn)生延誤，例如：遠(yuǎn)程控制模式下不到 10 ms 時間。 而對于傳統(tǒng)儀器來說，設(shè)置的調(diào)用則需要花費(fèi)長達(dá)一秒鐘的時間。 每個設(shè)置都用一個單獨(dú)的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時，只需使用鼠標(biāo)或按動按鍵即可。 此外，這種設(shè)計(jì)還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結(jié)果和跡線。

儀器各種設(shè)置之間的切換-在掃描的同時進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸

由于跡線數(shù)據(jù)可在捕獲測量數(shù)據(jù)的同時通過IEC/IEEE總線或LAN進(jìn)行傳輸，因而 R&S^®ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時間對于重復(fù)測量序列來說微不足道。

信道位和用戶端口——高速控制外部設(shè)備

為了進(jìn)一步縮短自動測試周期，儀器后面板上提供了一個用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過 R&S^®ZVA 的內(nèi)部測量序列直接同步測量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號。由于不需要使用遠(yuǎn)程控制序列，因而節(jié)省了執(zhí)行時間。

利用分段掃描實(shí)現(xiàn)最佳測量速度、準(zhǔn)確性和動態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段，每一段的測試點(diǎn)間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨(dú)進(jìn)行定義，從而實(shí)現(xiàn)與DUT特性之間的匹配。 以此實(shí)現(xiàn)測量速度和準(zhǔn)確度的進(jìn)一步優(yōu)化。

二、直觀的用戶界面和顯示結(jié)構(gòu)

為了滿足用戶需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標(biāo)和鍵盤，或者同時采用兩者進(jìn)行控制。對話框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個菜單，就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計(jì)了其它表格和對話框，可以用于更加詳盡的高級設(shè)置。 此外，鼠標(biāo)點(diǎn)擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時，會彈出菜單，從中可以選擇目標(biāo)參數(shù) – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S^®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)

（重新）配置跡線、信道、標(biāo)度和顯示區(qū)域等

配置時域測量（TDR）功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實(shí)現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測量數(shù)據(jù)（即，跡線和測量信道）的處理能力。 跡線、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量僅受 PC 內(nèi)存的限制（例如，可支持高達(dá) 100 個跡線，且每個跡線最多可支持 401 個數(shù)據(jù)點(diǎn)）。 即使是不同信道的跡線，也可以組合在一個區(qū)內(nèi)，據(jù)此，可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測量結(jié)果。 完成設(shè)置之后，所有跡線均可以重新布局、移至不同的區(qū)域，或者分配給不同的信道；更改設(shè)置時，無需一切從頭開始。

靈活的信道和跡線布局

三、創(chuàng)新式的校準(zhǔn)技術(shù)

多用途校準(zhǔn)技術(shù)，可滿足多種領(lǐng)域的應(yīng)用

R&S^®ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準(zhǔn)方法（直通、開路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準(zhǔn)技術(shù)。 由于 R&S^®ZVA 的每個測試端口都配備了一個單獨(dú)的參考接收機(jī)，因而可以使用 7-term 校準(zhǔn)技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線）、TOM（直通、開路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準(zhǔn)技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準(zhǔn)。 由于校準(zhǔn)直接在 DUT 參考面上進(jìn)行，因而完全消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準(zhǔn)技術(shù)極其類似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，即，無需知道某個通路的參數(shù)（例如，長度或衰減）。 此外，支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準(zhǔn)任務(wù)。

使用靈活的校準(zhǔn)套件

任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量精度很大程度地取決于例如長度、容量等所有電氣和機(jī)械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng)，因而，也決定了校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)中的 S 參數(shù)。 當(dāng)然，必須盡可能準(zhǔn)確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能，可以進(jìn)行詳盡的參數(shù)設(shè)置。

通過電氣延時、任意阻抗和損耗定義匹配
采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)

除了手動地定義校準(zhǔn)套件之外，也可以通過文件方便地安裝校準(zhǔn)套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。

自動校準(zhǔn)――快速、無錯誤、高精度

盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動校準(zhǔn)技術(shù)可用于多端口測量，但是比較耗時，出錯率高，并且校準(zhǔn)裝置磨損嚴(yán)重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準(zhǔn)所需的自動校準(zhǔn)單元，該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài)，不到30秒時間可完成201個測試點(diǎn)的四端口校準(zhǔn)。

四、通信

系統(tǒng)設(shè)計(jì)有各種后面板連接器，用于支持：

• 通過遠(yuǎn)程控制軟件控制儀表

• 采用 R&S^®NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測量

• 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設(shè)備進(jìn)行交互）。

• 掃描時間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設(shè)置）”中的設(shè)置相對應(yīng)（掃描、掃描段、測試點(diǎn)，或者部分測量）。 借助示波器，可以方便地監(jiān)控每一種情況下實(shí)際所需要的執(zhí)行時間。