全國統一服務(wù)熱線(xiàn):0532-86827879  收藏我們
網(wǎng)站首頁(yè)
關(guān)于我們
產(chǎn)品中心
新聞資訊
工程案例
技術(shù)服務(wù)
培訓中心
聯(lián)系我們
 當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 電子測試與測量 > 臺式網(wǎng)絡(luò )分析儀 >
  產(chǎn)品中心
電子測試與測量
EMC測試
工業(yè)無(wú)損測試
人工智能
三維掃描儀
3D打印機
物電測試系統
建工儀器|測量測繪儀器
五金工具

R&S®ZVA 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀


R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于高端矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀,可支持 4 個(gè)信號源,可以精準地測量高達 110 GHz 的信號。

需要對高性能、多功能型有源或無(wú)源組件和模塊進(jìn)行要求極高的測量時(shí),該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)

品的頻率范圍可擴展至 500 GHz。
 



主要特點(diǎn)


  4 個(gè)內部信號源,頻率高達 67 GHz,可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

 具有 4 個(gè)相位相干信號發(fā)生器功能(頻率可高達 67 GHz

 中頻帶寬可高達 30 MHz,可以實(shí)現放大器和混頻器的脈沖測量功能
可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進(jìn)行相位和群延時(shí)測量

 可以對放大器和混頻器進(jìn)行諧波、壓縮、互調和 Hot S22測量

 實(shí)現了無(wú)噪聲源噪聲系數定義的新方法

 實(shí)現了脈內掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò )測量

 2個(gè)內部脈沖發(fā)生器

通過(guò) R&S®ZVAX24,實(shí)現了內部脈沖調制器和組合器

嵌入/去嵌入功能通過(guò)虛擬網(wǎng)絡(luò )實(shí)現阻抗匹配

 支持真差分測量,可以表現出平衡設備的非線(xiàn)性效應

多功能校準技術(shù):TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM AutoCal







   


頻率可高達 67 GHz,并且含兩路內部源的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀,可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量


 線(xiàn)性和非線(xiàn)性放大器和混頻器測量

• 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測量
 
對帶內置本振的群延時(shí)和相對相位進(jìn)行測量
 
對混頻器的變頻損耗和互調進(jìn)行測量
 
對放大器進(jìn)行互調和 Hot S 參數進(jìn)行測量


 脈沖測量
 
頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀,用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測量(詳細內

  容請參見(jiàn)應用選件
• 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進(jìn)行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡(luò )測量
 
頻率和功率掃描式的脈內測量


 工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀
 
采用真差分模擬,可以快速、簡(jiǎn)便地測試平衡待測設備
 
輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶(hù)自定義


 校準
 
多功能校準技術(shù):TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA UOSM 
 
方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有未知通路校準 UOSM適配器去除功能



一、優(yōu)化的測試和配置時(shí)間,提高了測試速度


大中頻帶寬和寬動(dòng)態(tài)范圍,使測量快并精確

R&S®ZVA 的測量速度的將高達 1 MHz的中頻帶寬(可選 5/10 MHz)和高速合成器結合在一起,縮短了測量時(shí)間,從而提高了手動(dòng)調整和自動(dòng)化生產(chǎn)過(guò)程的效率。 CW 模式下,每個(gè)測試點(diǎn)的測量時(shí)間不到 3.5μs;頻率掃描模式下200 多個(gè)測試點(diǎn)不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動(dòng)態(tài)范圍寬、相位噪聲低,因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會(huì )對測量準確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S®ZVA 100 多個(gè)獨立信道和配置的跡線(xiàn),可以在短時(shí)間內完成復雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時(shí)地加載新的儀表設置。


寬動(dòng)態(tài)范圍

只需要很少的校準工作量和校準時(shí)間—R&S®ZV-Z5x 自動(dòng)校準單元


• 采用自動(dòng)校準單元,將校準時(shí)間降低至更小

 自動(dòng)檢測已經(jīng)連接的設備和端口:無(wú)需配置

 工作溫度范圍極寬,預熱時(shí)間幾乎為零


手動(dòng)校準

 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò )分析儀支持多種校準技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導或者導線(xiàn)端頭可能需要校準。 選擇可以支持適用校準標準的校準技術(shù)。

• 系統設計有結構清晰的對話(huà)框,顯示所有的校準步驟,確保校準工作正確無(wú)誤。

 校準期間,錯誤的連接僅需重做相應的校準步驟,即,無(wú)需從頭開(kāi)始徹底的重新校準。

 對于多端口重新校準,更加省心省力:更換測試儀組件(例如,某個(gè)故障電纜)之后,僅需重新校準相應的通路。

 避免重新校準:對于后續測量信道和設置,可以使用已有的校準結果。



并行測量-測量速度比原來(lái)快四倍

R&S®ZVA 的發(fā)生器設計,使得每個(gè)測試端口都可以同時(shí)作為信號源和接收機使用。 因此,可以對測試端口進(jìn)行分組。 在各個(gè)測試端口組上進(jìn)行的測量任務(wù)可以彼此實(shí)現同步。 因而,可以并行地測量多個(gè) DUT 或者一個(gè) DUT 的多個(gè)通路; 測量時(shí)間僅相當于測量一個(gè)設備所需要的時(shí)間。 因此,同時(shí)測量?jì)蓚(gè)兩端口DUT時(shí),速度將提高一倍;同時(shí)測量四個(gè)單端口DUT時(shí),速度將是原先的四倍。


并行測量-儀器各種設置之間的快速切換

在同時(shí)分析多個(gè)DUT時(shí),你再也無(wú)需從硬盤(pán)逐個(gè)載入所需的儀器設置。一旦被調用,設置將始終保存于RAM中,其中包括計算獲得的數據,例如通過(guò)插值獲得的校準值。 因此,各種設置之間的切換幾乎不會(huì )產(chǎn)生延誤,例如:遠程控制模式下不到 10 ms 時(shí)間。 而對于傳統儀器來(lái)說(shuō),設置的調用則需要花費長(cháng)達一秒鐘的時(shí)間。 每個(gè)設置都用一個(gè)單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時(shí),只需使用鼠標或按動(dòng)按鍵即可。 此外,這種設計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結果和跡線(xiàn)。


儀器各種設置之間的切換-在掃描的同時(shí)進(jìn)行數據傳輸

由于跡線(xiàn)數據可在捕獲測量數據的同時(shí)通過(guò)IEC/IEEE總線(xiàn)或LAN進(jìn)行傳輸,因而 R&S®ZVA 上的數據傳輸時(shí)間對于重復測量序列來(lái)說(shuō)微不足道。


信道位和用戶(hù)端口——高速控制外部設備

為了進(jìn)一步縮短自動(dòng)測試周期,儀器后板上提供了一個(gè)用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口, 這些 I/O 信號可通過(guò) R&S®ZVA 的內部測量序列直接同步測量裝置的外部設備或 DUT 設置。諸如觸發(fā)就緒等儀表狀態(tài),可以用作直接控制外部設備的電信號。由于不需要使用遠程控制序列,因而節省了執行時(shí)間。


利用分段掃描實(shí)現最佳測量速度、準確性和動(dòng)態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數量不受限制的許多段,每一段的測試點(diǎn)間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數可單獨進(jìn)行定義,從而實(shí)現與DUT特性之間的匹配。 以此實(shí)現測量速度和準確度的進(jìn)一步優(yōu)化。



二、直觀(guān)的用戶(hù)界面和顯示結構


為了滿(mǎn)足用戶(hù)需求,羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò )分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標和鍵盤(pán),或者同時(shí)采用兩者進(jìn)行控制。對話(huà)框直觀(guān)地顯示儀表設置和可輸入的參數。僅需少數幾個(gè)菜單,就可以完成基本的設置。 系統設計了其它表格和對話(huà)框,可以用于更加詳盡的高級設置。 此外,鼠標點(diǎn)擊顯示界面中的參數區域時(shí),會(huì )彈出菜單,從中可以選擇目標參數采用該功能,可以極其方便、快速地操作 R&S®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數化配置網(wǎng)絡(luò )

(重新)配置跡線(xiàn)、信道、標度和顯示區域等

配置時(shí)域測量(TDR)功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò )分析儀的主要目的是實(shí)現配置的方便與靈活性以及海量測量數據(即,跡線(xiàn)和測量信道)的處理能力。 跡線(xiàn)、信道、顯示和設置等的數量?jì)H受 PC 內存的限制(例如,可支持高達 100 個(gè)跡線(xiàn),且每個(gè)跡線(xiàn)最多可支持 401 個(gè)數據點(diǎn))。 即使是不同信道的跡線(xiàn),也可以組合在一個(gè)區內,據此,可以方便地比較使用了不同參數的測量結果。 完成設置之后,所有跡線(xiàn)均可以重新布局、移至不同的區域,或者分配給不同的信道;更改設置時(shí),無(wú)需一切從頭開(kāi)始。

靈活的信道和跡線(xiàn)布局



三、創(chuàng )新式的校準技術(shù)


多用途校準技術(shù),可滿(mǎn)足多種領(lǐng)域的應用

R&S®ZVA 不僅提供傳統的TOSM校準方法(直通、開(kāi)路、短路、匹配),而且還提供其他多種校準技術(shù)。 由于 R&S®ZVA 的每個(gè)測試端口都配備了一個(gè)單獨的參考接收機,因而可以使用 7-term 校準技術(shù),其中包括 TRL/LRL(直通、反射、傳輸線(xiàn)/傳輸線(xiàn)、反射、傳輸線(xiàn))、TOM(直通、開(kāi)路、匹配)、TNA(直通、網(wǎng)絡(luò )、衰減器)和 TRM(直通、反射、匹配)。這些校準技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準。 由于校準直接在 DUT 參考面上進(jìn)行,因而完全消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準技術(shù)極其類(lèi)似于 TOSM 技術(shù)。但是,前者允許使用未知通路(“U”)作為校準標準,即,無(wú)需知道某個(gè)通路的參數(例如,長(cháng)度或衰減)。 此外,支持各種類(lèi)型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此,極大地方便了帶有不同類(lèi)型連接器的 DUT 的校準任務(wù)。



使用靈活的校準套件

任何一種網(wǎng)絡(luò )分析儀的測量精度很大程度地取決于例如長(cháng)度、容量等所有電氣和機械參數。這些參數決定了幅值和相位響應,因而,也決定了校準標準中的 S 參數。 當然,必須盡可能準確地獲得這些參數。 為了定義校準標準,必要擁有考慮了可能出現的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò )分析儀均配設有清晰的等效電路圖和建模功能,可以進(jìn)行詳盡的參數設置。

通過(guò)電氣延時(shí)、任意阻抗和損耗定義匹配
采用等效電路圖定義匹配,其中,考慮了寄生電感和寄生電容效應

除了手動(dòng)地定義校準套件之外,也可以通過(guò)文件方便地安裝校準套件甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。



自動(dòng)校準――快速、無(wú)錯誤、高精度

盡管 TOSM、TRM TRL 等手動(dòng)校準技術(shù)可用于多端口測量,但是比較耗時(shí),出錯率高,并且校準裝置磨損嚴重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準所需的自動(dòng)校準單元,該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài),不到30秒時(shí)間可完成201個(gè)測試點(diǎn)的四端口校準。


 

四、通信


系統設計有各種后面板連接器,用于支持:

 通過(guò)遠程控制軟件控制儀表

 采用 R&S®NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測量

同步功能(例如,參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等,用以直接、快速地與外部設備進(jìn)行交互)。

掃描時(shí)間測量:USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時(shí)間,與菜單“Trigger settings(觸發(fā)器設置)中的設置相對應(掃描、掃描段、測試點(diǎn),或者部分測量)。 借助示波器,可以方便地監控每一種情況下實(shí)際所需要的執行時(shí)間。






 


 


 


 
  關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介
資質(zhì)榮譽(yù)
工作機會(huì )
企業(yè)文化
聯(lián)系我們
  產(chǎn)品中心
產(chǎn)品展示
  新聞資訊
企業(yè)新聞
行業(yè)資訊
  其他信息
技術(shù)服務(wù)
培訓中心
  聯(lián)系我們
聯(lián)系方式
客戶(hù)反饋
地址:青島市北區龍城路31號
電話(huà):0532-86827879
傳真:0532-86827879
郵箱:dejunqd@163.com
魯ICP備17011158號-1
魯公網(wǎng)安備37020302372272