配合示波器/接收機/頻譜分析儀來進行電場和磁場輻射干擾測試

在進行近場分析之前，你需要首先了解電場和磁場是如何分布的，R&S®HZ 15 探頭組所包含的5支探頭很好的適應了這種需求。所有的近場探頭使用方便，是對印制電路板及元器件上的超過30MHz的高頻電磁場進行測試的理想工具。磁場探頭包含特殊電隔離的探頭頭部，不同的探頭頭部形狀適應不同的近場測量任務。

探頭帶寬的上限是由探頭頭部的大小和設計所決定的。所有近場探頭都是無源的，可接入至示波器、接收機或頻譜分析儀的輸入端口。R&S®HZ-16前置放大器可提高探測靈敏度。

電路設計者常常需要對產(chǎn)品進行近場測試，以確定其電磁場分布是否超出特定EMC標準的要求范圍�；�于場強測試結果，設計者可以知道待測件上的某些關鍵頻點，減小EMI的有效途徑是分析近場，發(fā)現(xiàn)干擾源并采取特定的措施以改進。

主要性能

•特殊電隔離的磁場探頭

•探頭頭部設計適應近場測試需求

•高分辨率測量

•確定磁場方向

•操作簡便

•HZ-15為一組近場探頭套裝，可以精確定位到具體的部件和導線輻射，HZ-16為放大器（見與FSH相連的黑色方塊），用于放大微弱的輻射信號。

•E場測量有兩個探頭

•R&S E02 近場探頭，大約2cm*5cm

0.2mm測試電極

H場有三個探頭

•R&S H400-1

R&S H50-1

R&S H2.5-2